如何有效量測及判斷材料粒徑大小?
如何有效量測及判斷材料粒徑大小?
粒徑量測直觀並且很好理解,肉眼可看出顆粒大小,拿出直尺或游標卡尺就可簡易測量,但隨著顆粒越來越細變成粉末甚至進入了奈米的微觀世代,如何準確的量測到顆粒尺寸,就變得越來越精密以及困難。
而粒度分析是粒子科學的一部分,其中粒度分析里的粒度主要是指粒徑分布。 粒度測量通常是通過稱為粒度分析儀 (PSA) 的設備實現的,這些設備基於不同的技術,傳統的方法主要有篩分法、顯微鏡法(高清晰度圖像處理)、布朗運動分析、庫爾特電感應法、重力沉降法、離心沉降法等,這些測試方法操作繁瑣、測試時間較長、不能在線測量等。
| 檢測範圍 | 測量原理 | 優點 | 缺點 |
過篩法 | >40um | 篩孔尺寸,重力 | 簡易,成本低 | 400目以上難以測量,無法檢測流體 |
光學顯微鏡 SEM | >0.0001um | 雷射束散射 | 可檢測極小粒子,確認一次粒徑大小 | 價位高 無法得到粒徑分佈全貌 |
光學散射法 | 0.002~2000um | 對光散射或消光 | 簡便快速 取樣量少 可得粒徑分佈 | 易受雜質影響 |
重力沉降 | 2~100um | 沉降效應 | 成本低 | 過小粒徑無法檢測 |
電阻法 | 0.4~800um | 在小孔電阻傳感區引起的電阻變化 | 測量速度快 | 粒徑範圍太大無法使用 |
雷射粒度儀是目前用途最廣泛的一種,其中靜態光散射衍射粒度儀它的粒徑測量範圍廣、適用範圍廣泛、重現性好、測量速度快、操作方便且可實現在線測量,一次測量可以得出多種粒度數據,如體積平均粒徑、粒度曲線、區間粒度分布和累計粒度分布等。
合記提供兩台粒徑分析儀給客戶研磨後檢測粒徑。
1. Malvern Zetasizer NanoS 奈米粒徑分析儀
採用動態光散射(DLS)測量分子或顆粒的粒徑及粒徑分佈,透過分析懸浮粒子在用雷射照射時散射光的波動,以確定布朗運動的速度,然後可以使用斯托克斯-愛因斯坦關係獲得粒子的流體動力學尺寸。
可量測1~10000nm奈米等級的物料,結合合記機械NT系列陶瓷奈米研磨機,專業的研磨技術+客觀的粒徑檢測儀器,提供客戶最完整的奈米研磨分散技術。
2. Malvern Mastersizer 3000 粒徑分析儀
使用雷射繞射技術來量測材料的粒徑和粒徑分佈,其利用雷射光束穿過分散的顆粒樣品時所產生散射光的強度來進行量測,然後對數據進行分析,計算出產生該散射圖譜的粒徑大小。
可量測0.01~3500um奈米等級的物料,結合合記機械HT系列陶瓷珠磨機及乾式研磨設備,能夠準確判斷研磨出物料顆粒大小,也提供客戶單獨送樣檢測服務。
上圖可看到粒徑分析儀所量測出的粒徑報告,業界多半都是用D10, D50, D90 這三個長度數值來表示,單位通常是 μm。常在學術研究報告或品管報告中看到這幾個數據,"D" 的意思是 Distribution 粒徑分佈。
D50 代表全部微粒中,有 50% 的顆粒,小於這個尺寸。雷射粒徑分析儀,並不是真的一顆一顆單獨去照出樣品微粉的尺寸,而是用不同角度的鐳射光,照射被分散後的全體粉末,再從感光元件獲得的多個繞射投影圖,最後執行疊加、扣除、交叉分析,來計算出各種尺寸微粒的數量統計比例,也可以透過粒徑分佈圖觀察粒徑分佈狀況,交叉分析成品研磨特性。
結語
在研磨的領域裡面,除了有效的配方及優質的設備以外,還需要客觀公正的第三方儀器進行粒徑檢測,合記機械除了提供專業技術及優質服務外,還配有完整的檢測設備,搭配專業的人員技術以及相關粒徑分析儀器,讓您開發、生產事半功倍!
參考文章:
https://zh.wikipedia.org/zh-tw/%E7%B2%92%E5%BA%A6%E5%88%86%E6%9E%90